差示掃描量熱儀測量熔點(diǎn)首先會有一個(gè)向下的吸熱峰。ICTA規(guī)定前基線延長線與峰的前沿大斜率處切線的交點(diǎn)，代表熔點(diǎn)。前基線就是指，在熔化過程之前的接近水平的基線。峰前沿就是指峰達(dá)到低點(diǎn)之前的那段曲線。
 

　　差示掃描量熱儀是在程序控溫和一定氣氛下，測量與試樣和參比物溫差成比例的流過熱敏板的熱流率的儀器。熔點(diǎn)是固體將其物態(tài)由固態(tài)轉(zhuǎn)變(熔化)為液態(tài)的溫度。晶體開始融化時(shí)的溫度叫做熔點(diǎn)。物質(zhì)有晶體和非晶體，晶體有熔點(diǎn)，而非晶體則沒有熔點(diǎn)。晶體又因類型不同而熔點(diǎn)也不同。一般來說晶體熔點(diǎn)從高到低為，原子晶體>離子晶體>金屬晶體>分子晶體。
 

　　而差示掃描量熱儀對于比熱容的測定：
 

　　DTA或DSC曲線的基線偏移，在升溫速度不變時(shí)，只與樣品和參比物的熱容差有關(guān)。因此可利用基線偏移來測定樣品的比熱容。由于DSC靈敏度高、熱響應(yīng)速度快，目前測定比熱容大部分用DSC。通常以藍(lán)寶石作為標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，它在各溫度下的比熱容可在手冊中查得。具體方法是首先測定空白基線，即將兩個(gè)空的樣品盤分別放在樣品支持器和參比物支持器上，以一定的升溫速度作一條基線；然后在相同的條件下，用同一樣品盤分別測定標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)藍(lán)寶石和樣品，即能得到各自的DSC曲線。